Исследователи впервые визуализировали атомарные дефекты внутри транзисторов современных процессоров
Команда ученых из Корнеллского университета в сотрудничестве с инженерами TSMC и ASM представила передовой метод просвечивающей электронной микроскопии, позволяющий воссоздавать трехмерную конфигурацию атомных решеток внутри транзисторных каналов. Исследователям впервые удалось зафиксировать специфические дефекты — микроскопические неровности на границах раздела фаз, получившие метафорическое название «мышиные укусы». В ходе экспериментов применялся специализированный матричный детектор EMPAD, сконструированный в...



_large.jpg)





